info@npk-photonica.ru
RU EN
+7 (812) 209-20-20
Заказать звонок
Продукты
  • Камеры отечественного производства
    Камеры отечественного производства
    • Видимого и УФ диапазонов (0.2 — 1.1 мкм)
    • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
    • Средний ИК (3 — 5 мкм)
    • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
  • Объективы и оптика
    Объективы и оптика
    • Видимого и УФ диапазонов
    • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
    • Средний ИК (3 — 5 мкм)
    • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
    • Аксессуары для оптики
  • Сенсоры
    Сенсоры
    • Видимого и УФ диапазонов
    • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
    • Средний ИК (3 — 5 мкм)
    • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
    • Отладочные наборы
  • Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
    Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
    • УФ диапазон (100 — 400 нм)
  • Камеры и модули видимого диапазона
    Камеры и модули видимого диапазона
    • Высокочувствительные камеры
    • Камеры машинного зрения
    • Блок-камеры и модули
  • Камеры и модули инфракрасного диапазона
    Камеры и модули инфракрасного диапазона
    • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
    • Средний ИК (3 — 5 мкм)
    • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
  • Специализированные камеры
    Специализированные камеры
    • Видимый диапазон (0.4 — 0.75 мкм)
    • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
    • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
  • Лазерные сканирующие системы
    Лазерные сканирующие системы
    • 3D-лидары
    • Твердотельные лидары
    • OEM Дальномеры
    • ИК-подсветка
    • 2D-лидары
  • Полезная нагрузка для БПЛА
    Полезная нагрузка для БПЛА
    • Камеры
    • 3D-лидары
    • Навигационные модули
    • Обнаружение БПЛА
  • Аэрофотосъемочное оборудование
    Аэрофотосъемочное оборудование
    • Лидарные системы
    • Камеры для аэрофотосъемки
    • Аэрофотосъемочные комплексы
    • Радары с синтезированной апертурой
    • Гиростабилизированные платформы
  • Аксессуары и прочее
    Аксессуары и прочее
    • ToF-датчики
    • Силомоментные сенсоры
    • Микродисплеи
Решения
  • Горная промышленность
    • Системы улучшения видимости при эксплуатации спецтехники
  • Нефтегазовая отрасль
    • Система визуализации утечек Метана VLM384-GAS (в разработке)
  • Охрана и безопасность
    • Охрана протяженных и площадных объектов с помощью LWIR и SWIR-камер
  • Системы контроля качества продукции
    • Оптическая система контроля качества полупроводниковых изделий AFS-S6
  • Строительство и геологоразведка
    • Полезная нагрузка Phase One P3 для контроля состояния зданий и сооружений
    • Комплексная БПЛА-лидар-система для решения задач в строительстве и геодезии
    • 3D-лидары для решения задач в геологоразведке
    • 3D-лидары для решения задач охраны периметра
    • 3D-лидары для решения задач в градостроительстве и землеустройстве
  • Транспортная промышленность и инфраструктура
    • Мультиспектральная ADAS-система помощи водителю
    • Контроль дорожного движения
    • 3D-лидары для автопилотируемых транспортных средств
Новости
Библиотека
Мероприятия
О компании
  • Контакты
  • Производители и партнеры
  • Вакансии
  • Сертификаты
  • Специальная оценка условий труда
    НПК Фотоника
    Продукты
    • Камеры отечественного производства
      Камеры отечественного производства
      • Видимого и УФ диапазонов (0.2 — 1.1 мкм)
      • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
      • Средний ИК (3 — 5 мкм)
      • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
    • Объективы и оптика
      Объективы и оптика
      • Видимого и УФ диапазонов
      • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
      • Средний ИК (3 — 5 мкм)
      • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
      • Аксессуары для оптики
    • Сенсоры
      Сенсоры
      • Видимого и УФ диапазонов
      • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
      • Средний ИК (3 — 5 мкм)
      • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
      • Отладочные наборы
    • Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
      Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
      • УФ диапазон (100 — 400 нм)
    • Камеры и модули видимого диапазона
      Камеры и модули видимого диапазона
      • Высокочувствительные камеры
      • Камеры машинного зрения
      • Блок-камеры и модули
    • Камеры и модули инфракрасного диапазона
      Камеры и модули инфракрасного диапазона
      • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
      • Средний ИК (3 — 5 мкм)
      • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
    • Специализированные камеры
      Специализированные камеры
      • Видимый диапазон (0.4 — 0.75 мкм)
      • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
      • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
    • Лазерные сканирующие системы
      Лазерные сканирующие системы
      • 3D-лидары
      • Твердотельные лидары
      • OEM Дальномеры
      • ИК-подсветка
      • 2D-лидары
    • Полезная нагрузка для БПЛА
      Полезная нагрузка для БПЛА
      • Камеры
      • 3D-лидары
      • Навигационные модули
      • Обнаружение БПЛА
    • Аэрофотосъемочное оборудование
      Аэрофотосъемочное оборудование
      • Лидарные системы
      • Камеры для аэрофотосъемки
      • Аэрофотосъемочные комплексы
      • Радары с синтезированной апертурой
      • Гиростабилизированные платформы
    • Аксессуары и прочее
      Аксессуары и прочее
      • ToF-датчики
      • Силомоментные сенсоры
      • Микродисплеи
    Решения
    • Горная промышленность
      • Системы улучшения видимости при эксплуатации спецтехники
    • Нефтегазовая отрасль
      • Система визуализации утечек Метана VLM384-GAS (в разработке)
    • Охрана и безопасность
      • Охрана протяженных и площадных объектов с помощью LWIR и SWIR-камер
    • Системы контроля качества продукции
      • Оптическая система контроля качества полупроводниковых изделий AFS-S6
    • Строительство и геологоразведка
      • Полезная нагрузка Phase One P3 для контроля состояния зданий и сооружений
      • Комплексная БПЛА-лидар-система для решения задач в строительстве и геодезии
      • 3D-лидары для решения задач в геологоразведке
      • 3D-лидары для решения задач охраны периметра
      • 3D-лидары для решения задач в градостроительстве и землеустройстве
    • Транспортная промышленность и инфраструктура
      • Мультиспектральная ADAS-система помощи водителю
      • Контроль дорожного движения
      • 3D-лидары для автопилотируемых транспортных средств
    Новости
    Библиотека
    Мероприятия
    О компании
    • Контакты
    • Производители и партнеры
    • Вакансии
    • Сертификаты
    • Специальная оценка условий труда
      НПК Фотоника
      • Продукты
        • Назад
        • Продукты
        • Камеры отечественного производства
          • Назад
          • Камеры отечественного производства
          • Видимого и УФ диапазонов (0.2 — 1.1 мкм)
          • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
          • Средний ИК (3 — 5 мкм)
          • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
        • Объективы и оптика
          • Назад
          • Объективы и оптика
          • Видимого и УФ диапазонов
          • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
          • Средний ИК (3 — 5 мкм)
          • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
          • Аксессуары для оптики
        • Сенсоры
          • Назад
          • Сенсоры
          • Видимого и УФ диапазонов
          • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
          • Средний ИК (3 — 5 мкм)
          • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
          • Отладочные наборы
        • Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
          • Назад
          • Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
          • УФ диапазон (100 — 400 нм)
        • Камеры и модули видимого диапазона
          • Назад
          • Камеры и модули видимого диапазона
          • Высокочувствительные камеры
          • Камеры машинного зрения
          • Блок-камеры и модули
        • Камеры и модули инфракрасного диапазона
          • Назад
          • Камеры и модули инфракрасного диапазона
          • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
          • Средний ИК (3 — 5 мкм)
          • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
        • Специализированные камеры
          • Назад
          • Специализированные камеры
          • Видимый диапазон (0.4 — 0.75 мкм)
          • Ближний ИК (0.9 — 1.7 мкм)
          • Дальний ИК (8 — 14 мкм)
        • Лазерные сканирующие системы
          • Назад
          • Лазерные сканирующие системы
          • 3D-лидары
          • Твердотельные лидары
          • OEM Дальномеры
          • ИК-подсветка
          • 2D-лидары
        • Полезная нагрузка для БПЛА
          • Назад
          • Полезная нагрузка для БПЛА
          • Камеры
          • 3D-лидары
          • Навигационные модули
          • Обнаружение БПЛА
        • Аэрофотосъемочное оборудование
          • Назад
          • Аэрофотосъемочное оборудование
          • Лидарные системы
          • Камеры для аэрофотосъемки
          • Аэрофотосъемочные комплексы
          • Радары с синтезированной апертурой
          • Гиростабилизированные платформы
        • Аксессуары и прочее
          • Назад
          • Аксессуары и прочее
          • ToF-датчики
          • Силомоментные сенсоры
          • Микродисплеи
      • Решения
        • Назад
        • Решения
        • Горная промышленность
          • Назад
          • Горная промышленность
          • Системы улучшения видимости при эксплуатации спецтехники
        • Нефтегазовая отрасль
          • Назад
          • Нефтегазовая отрасль
          • Система визуализации утечек Метана VLM384-GAS (в разработке)
        • Охрана и безопасность
          • Назад
          • Охрана и безопасность
          • Охрана протяженных и площадных объектов с помощью LWIR и SWIR-камер
        • Системы контроля качества продукции
          • Назад
          • Системы контроля качества продукции
          • Оптическая система контроля качества полупроводниковых изделий AFS-S6
        • Строительство и геологоразведка
          • Назад
          • Строительство и геологоразведка
          • Полезная нагрузка Phase One P3 для контроля состояния зданий и сооружений
          • Комплексная БПЛА-лидар-система для решения задач в строительстве и геодезии
          • 3D-лидары для решения задач в геологоразведке
          • 3D-лидары для решения задач охраны периметра
          • 3D-лидары для решения задач в градостроительстве и землеустройстве
        • Транспортная промышленность и инфраструктура
          • Назад
          • Транспортная промышленность и инфраструктура
          • Мультиспектральная ADAS-система помощи водителю
          • Контроль дорожного движения
          • 3D-лидары для автопилотируемых транспортных средств
      • Новости
      • Библиотека
      • Мероприятия
      • О компании
        • Назад
        • О компании
        • Контакты
        • Производители и партнеры
        • Вакансии
        • Сертификаты
        • Специальная оценка условий труда
      • +7 (812) 209-20-20
      192241 Россия, Санкт-Петербург, ул. Софийская, 54
      info@npk-photonica.ru
      • Telegram
      • YouTube
      • Главная
      • Решения
      • Системы контроля качества продукции
      • Оптическая система контроля качества полупроводниковых изделий AFS-S6

      Оптическая система контроля качества полупроводниковых изделий AFS-S6

      Оптоэлектронная система на базе камер машинного зрения в видимом диапазоне с применением технологий интеллектуальной фокусировки
      Интеллектуальная система фокусировки AFS-S6 – это аппаратно-программный комплекс для удержания фокуса в реальном времени при высокоскоростной оптической инспекции. Принцип действия системы основан на измерении дистанции от объектива до рассматриваемой поверхности посредством линейного лазера действующего в коротковолновом инфракрасном спектральном диапазоне 785 нм, 850 нм. Сигнал с фотоприемной части лазерного блока после обработки передается на механическую часть системы для корректировки фокуса объектива, тем самым обеспечивая захват кадров с высоким контрастом и детализацией в реальном времени.

      Оформите заявку, мы свяжемся с Вами в ближайшее время и ответим на все интересующие вопросы.
      Заказать

      Рассматриваемый комплекс обладает преимуществами в части высокой точности и скорости фокусировки, а 50-кратное приближение позволяет фиксировать детали на субмикронном уровне, что, без сомнений, может быть привлекательным решением для задач биомедицины, контроля качества полупроводниковых изделий, научных исследований и разработок.

      В состав аппаратной части, предлагаемого решения, входят следующие элементы:

      • камера машинного зрения на базе КМОП-сенсора с разрешением от 2 до 25 Мп;
      • линейный лазерный сенсор в трех доступных модификациях 660 нм, 785 нм и 850 нм;
      • подсветка в видимом спектральном диапазоне;
      • вариофокальный объектив;
      • электромеханический привод.
      Сценарии применения
      • Инспекция дисплейных панелей (OLED/LCD). При контроле качества прозрачных структур применение ручной фокусировки объектива не обеспечивает высокий уровень контраста изображения. Подсветка создает искусственный контраст, позволяя точно фокусироваться на подложке, электродах или защитном стекле для выявления микротрещин.

      • Контроль полупроводниковых пластин (Wafer Inspection). Высокие показатели точности изображения, моментальное срабатывание фокусировки в совокупности с высоким уровнем приближения позволяют обеспечить превосходный уровень контроля качества полупроводниковых изделий.

      •  Автоматизированный оптический контроль (AOI) печатных плат и керамики. Алгоритмы захвата и обработки сигнала обеспечивают четкость каждого кадра без остановок и снижают потери времени на фокусировку, ускоряя процесс контроля монтажа компонентов на печатных платах.
      Основные особенности
      • Точность на субмикронном уровне;
      • Мгновенная автофокусировка в реальном времени;
      • Многократное приближение;
      • Стабильность и устойчивость к помехам от внешнего освещения.
      Схемы сопряжения

      Интеллектуальная система фокусировки с одним объективом
      Схема 1 – Интеллектуальная система фокусировки с одним объективом


      Интеллектуальная система фокусировки с тремя объективами

      Схема 2 – Интеллектуальная система фокусировки с тремя объективами


      Реальные примеры применения системы в промышленности

      Контроль дисплейной панели

      Пример контроля дисплейной панели


      Контроль трещин на экране OLED

      Контроль трещин на экране OLED

      Контроль полупроводниковых пластин

      Примеры контроля полупроводниковых пластин


      Параметры интеллектуального датчика фокусировки

      Параметр

      Модель AFS-S6

      Увеличение объектива

      2x

      5x

      10x

      20x

      50x

      Числовая апертура

      0,055

      0,14

      0,28

      0,42

      0,55

      Глубина резкости

      91 мкм

      14 мкм

      3,6 мкм

      1,6 мкм

      0,9 мкм

      Частота дискретизации

      160 Гц – 4,9 кГц

      Линейный диапазон фокусировки

      ±3000 мкм

      ±1000 мкм

      ±700 мкм

      ±300 мкм

      ±100 мкм

      Диапазон фокусировки

       ±20000 мкм 

      ±13000 мкм

      ±5000 мкм

       ±2500 мкм 

       ±800 мкм 

      Точность динамического слежения и фокусировки

      < 1/2 глубины резкости объектива

      Точность статической фокусировки

      < 1/4 глубины резкости объектива

      Повторяемость фокусировки

      < 1/4 глубины резкости объектива

      Сенсор изображения

      Площадной КМОП

      Лазер

      Полупроводниковый лазер 660 нм; 785 нм; 850 нм

      Мощность на выходе 

      0,4 – 4 мВт

      Форма лазерного луча

      Линейная

      Фокусируемая отражательная способность

      1% ... 99%

      Рабочая температура 

      от +10 °C до +35 °C

      Масса модуля

      385 г

      Габариты

      45 × 50 × 128 мм

      Время единичной фокусировки

       Менее 100 мс (при расфокусировке на 100 мкм объектива 10X) 

      Питание

      12 – 24 В

      Потребляемая мощность

      3 Вт

      Выходной сигнал управления движением

      Импульс + направление или аналоговый сигнал
       (0 – 10 В)

      Протокол управления

      RS485

      Управление лазером

      RS485


      Назад к списку
      • Горная промышленность
      • Нефтегазовая отрасль
      • Охрана и безопасность
      • Системы контроля качества продукции
        • Оптическая система контроля качества полупроводниковых изделий AFS-S6
      • Строительство и геологоразведка
      • Транспортная промышленность и инфраструктура
      Подписывайтесь на новости:
      Компания
      Контакты
      Производители и партнеры
      Вакансии
      Сертификаты
      Специальная оценка условий труда
      Каталог
      Камеры отечественного производства
      Объективы и оптика
      Сенсоры
      Камеры и модули ультрафиолетового диапазона
      Камеры и модули видимого диапазона
      Камеры и модули инфракрасного диапазона
      Специализированные камеры
      Лазерные сканирующие системы
      Полезная нагрузка для БПЛА
      Аэрофотосъемочное оборудование
      Аксессуары и прочее
      Решения
      Горная промышленность
      Нефтегазовая отрасль
      Охрана и безопасность
      Системы контроля качества продукции
      Строительство и геологоразведка
      Транспортная промышленность и инфраструктура
      Информация
      Решения
      Новости
      Мероприятия
      Библиотека
      Наши контакты

      +7 (812) 209-20-20
      Пн – Пт с 9:00 до 18:00
      192241 Россия, Санкт-Петербург, ул. Софийская, 54
      info@npk-photonica.ru
      © 2026 Все права защищены.

      Вы находитесь на английской версии сайта. Перейти на русскоязычную версию сайта?